2020년 제1회 전자현미경 장비 직접사용자 정규교육 안내 (기본, 고급)

 

기초과학공동기기원이 보유한 각종 전자현미경 및 관련장비에 대한 직접사용자 교육(기본, 고급)관련 재공지드립니다.

이번 교육은 COVID-19로 연기되었던 지난 2020년 제1회 전자현미경 장비 직접사용자 정규교육의 신청자를 대상으로 진행되오니 이 점 양해부탁드립니다.

주변에 추가로 교육을 듣기 희망하시는 분들은 곧 있을 2회 전자현미경 직접사용자 교육을 신청하여 이용해주시기 바랍니다.

 

기초과학공동기기원이 보유한 각종 전자현미경 및 관련장비에 대한 직접사용자 2020년 상반기 정기교육(기본, 고급)을 다음처럼 실시합니다. 본 교육 프로그램의 해당장비 이론과 실습을 수료 한 자는 본원 규정의 능력등극에 따른 직접사용자라이센스가 수여되며, 이후 본원 WEB예약시스템을 활용해서 교육이수장비를 각 등급에 따라 평일포함 연중무휴 24시간 희망하는 시간에 사용이 가능합니다. 여러분들의 많은 참여를 부탁드립니다.

COVID-19로 인하여 기본 이론 교육은 zoom(https://zoom.us/)으로 진행되며, 핸드폰 어플리케이션 및 PC버젼 다운로드 후 접속하실 수 있습니다.

zoom 회원가입 없이도 강의수강이 가능하며 강의 전날 접속가능한 링크를 메일로 보내드리오니 반드시 확인해주시기 바랍니다.

 

■ 기본 교육

1. 일 시

- 이론교육 : 2020년 07월 27일 (월) 13:30 ~ 17:00(ZOOM으로 진행)

- 실습교육 : 2020년 07월 28일 (화) 09:00 ~ 08월 07일 (금) 16:30

* 자세한 일정은 첨부파일을 확인 부탁드립니다.

* 장비에 따라 별도의 실습일정이 정해질 수도 있습니다.

 

2. 대상 장비 및 세부교육 내용

장비명	교육내용
TEM Ⅱ	TEM을 이용한 Image 및 회절분석
HR-TEM	TEM을 이용한 Image 및 회절분석
FE-SEM	SEM이미지 관찰
FE-SEM prime	SEM이미지 관찰 및 EDS분석
FE-EPMA	WDS를 이용한 정량,정성,선,면 분석 및 이미지 관찰
FIB	A course: 이온 Beam을 이용한 밀링 및 SEM 이미지 관찰 B course: TEM 관찰용 시편제작
Mini SEM	SEM이미지 관찰
Nano Mill	FIB 시편 제작 후 추가 밀링
SEM Mill	시료 표면 및 단면을 Ar으로 밀링
Mounting & Polishing	전자현미경용 마운팅 시료 제작 및 폴리싱

※ FIB의 신청자의 경우 신청 시 A, B Course의 선택사항을 비고란에 작성해주시기 바랍니다.

 

3. 이론강사 : 조성표 부장교수 (기초과학공동기기원)

 

4. 실습담당자 : 이인성 (TEM Ⅱ), 김설지 (FIB, FE-EPMA), 송수진 (HR-TEM)

                    김선영 (FE-SEM, FE-SEM prime, Mini SEM)

                    ㈜인텍 정부범 대리(Nano Mill) 이서준 대리(SEM Mill)

                    ㈜만진교역 송민구 대리 (Mounting & Polishing)

 

■ 고급 교육

1. 일 시

- 이론교육 : 2020년 07월 28일 (화) 10:00 ~ 11:30

- 실습교육 : 2020년 07월 28일 (화) 13:00 ~ 07월 31일 (금) 16:30

* 자세한 일정은 첨부파일을 확인 부탁드립니다.

* 장비에 따라 별도의 실습일정이 정해질 수도 있습니다.

 

2. 대상 장비 및 세부교육 내용

 

장비명	교육내용
FE-TEM	TEM, STEM, EDS 실습
Cs-TEM	TEM을 이용한 Image (Image Cs 조정)및 화학분석
Cs-STEM	TEM을 이용한 Image & STEM (Ronchigram 조정) 및 화학분석
TEM 응용프로그램	MacTempasX, CrystalMaker X, GPA,　DeConvEELS, qHAADF 사용법 소개

* FE-TEM : 추가교육 1회 (최대 2시간, 직접사용료의 50% 청구)

* Cs-TEM, STEM : 추가교육 1회 (최대 4시간, 직접사용료의 50% 청구)

 

3. 이론강사 : 조성표 부장교수 (기초과학공동기기원)

 

4. 실습담당자 : 조성표 (TEM 응용프로그램), 송수진 (FE-TEM), 이인성 (Cs-TEM)

 

 

■ 유의사항

 

1. 이론교육은 모든 참가자가 수강가능하나, 일부장비의 실습교육은 다음처럼 자격기준을 요합니다.

- FE-TEM : 본원 TEM Ⅱ 또는 HR-TEM 직접사용자

- FIB의 TEM 시료제작실습(B course): 본원 FIB 3회 이상, 10시간 이상 직접사용한 숙련된 유저

- Cs-TEM/STEM이론 교육대상은 모든 희망자 신청가능하나, Cs-TEM/STEM실습교육은 본원인가 기존 TEM직접사용자 또는 동등한 수준의 유경험자 5인 이내

*단, Cs-STEM실습희망자는 최첨단장비보호, 전학간 형평성 등 종합적 장비관리를 위해본원 규정에 따른 사전심의가 있음으로 반드시 신청시 문의바람

- TEM 전문응용프로그램 이론 및 실습교육은 본원소속 장비사용자에 한해서 신청이 가능 함

2. 실습시 개인샘플 지참하여 이용가능합니다.

3. 2개 이상의 장비교육 신청 가능합니다.

4. 장비 실습 조편성은 기본적으로 선착순입니다. 필요시 실습참석이 불가능한 시간을 “비고”란에 꼭 기재 바라며, 미기입으로 인한 불이익은 책임지지 않습니다.

5. 최종 조편성은 접수마감 후 개별메일로 알려드립니다.

6. 참가비는 본원 홈페이지 기기사용신청서로 받습니다. 평소 장비 예약하시는 방식과 동일하게 해 당장비의 신청버튼을 누르시고 ‘교육활용’을 선택하여 신청하시면 됩니다.

7. 실습 참여시 첨부된 “서약서”에 서명 후 지참해주시기 바랍니다. 서약서 미지참시 실습이 제한될 수 있습니다.

 

■ 장소 및 참가비

1. 장소

- 강의: 서울대학교 기초과학공동기기원 세미나실 (205호)

- 실습: 서울대학교 기초과학공동기기원 1층 각 전자현미경실

 

130호	FE-EPMA, FE-SEM prime, Mini-SEM, SEM Mill, Mounting & Polishing
101호	FE-TEM, Cs-TEM, Cs-STEM, Nano Mill, TEM 응용프로그램
108호	FIB, HR-TEM, TEM Ⅱ, FE-SEM

 

2. 참가비

- FE-TEM : 20만원

- Cs-TEM, Cs-STEM : 각 50만원

- FIB 밀링교육(A course) : 16만원 / TEM 시료제작(B course) : 30만원

- FE-SEM prime, FE-EPMA : 각 16만원

- TEM Ⅱ, HR-TEM, FE-SEM : 각 10만원

- TEM 응용프로그램 : 각 10만원

- Nano Mill : 7만원

- Mini SEM : 4만원

- SEM Mill : 3만원

- Mounting & Polishing : 4만원

* 외부 연구소 및 산업체: 200%

* 부가세(10%)가 별도로 부과됩니다.

 

※ 교육문의 김설지 연구원 e-mail : redsul79@snu.ac.kr, 전화 : 02-880-8062

※ 접수문의 임장혁 조교 e-mail : yjh200a@snu.ac.kr, 전화 : 02-880-8056