2021.01.19
<u>서울대학교 기초과학공동기기원</u>은 첨단 연구장비와 기기의 공동활용을 통한 대학의 기초과학 연구역량의 고양과 국제적인 연구경쟁력 확보라는 목표아래 1988년에 설립되어, 서울대학교 본부 부속시설로서 교육과학기술부와 서울대학교의 적극적인 지원 아래 국제경쟁력을 갖춘 전문 분석 지원 기관으로 도약하기 위해 노력하고 있습니다.
본 공동기기원은 특히 경험이 풍부한 석, 박사급 전문 연구원들을 전자현미경팀, 표면ㆍX선 구조분석팀, 무기ㆍ물성분석팀, 유기ㆍ생물분석팀 등에 전담 배치하여 다양한 <a href="https://irf.snu.ac.kr/02_facility/facility_00.htm"><u>기초과학 분야를 망라하는 첨단장비</u><u>(44</u><u>종 </u><u>50</u><u>점</u><u>/</u><u>약</u><u>334</u><u>억원 규모</u><u>)</u></a>들과 전문 연구원들의 정밀측정 및 분석 능력으로 기초과학 융합의 터전이 되어가고 있습니다.
위와 같이 연구를 지원하기 위한 <u>연구장비를 운영</u><u>/</u><u>관리</u>하고 이러한 연구장비의 활용(분석)지원 및 <u>유관기관 또는 전문가와 연계한 지원사업을 기획</u><u>/</u><u>수행</u><u>/</u><u>관리</u>할 유능한 <u>전문 연구원</u><u>(</u><u>석사급 이상</u><u>)</u>을 채용하고자 합니다.
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구분 |
담당업무 |
인원 |
모집분야 |
관련전공 |
서류접수 |
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공통 |
우대사항 |
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연구장비 운영 |
- 연구장비 운영/관리 - 유관기관 연계 지원사업 기획/수행/관리 |
저온실험 유경험자 |
O명 |
전자현미경 표면·X선 구조분석 무기·물성분석 유기·생물분석 |
장비 관련 |
상시채용 |
- 근무기간 : 임용일 ~ 2021.
참고로 기초과학공동기기원에 구축된 분야별 연구장비는 다음과 같습니다.
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분야 |
장비명 |
제조사 |
모델명 |
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국문명 |
영문명 |
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전자현미경 |
구면수차보정 투과전자현미경 |
Cs corrected TEM with Cold FEG |
JEOL Ltd |
JEM-ARM200F |
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구면수차보정 주사투과전자현미경 |
Cs corrected STEM with Cold FEG |
JEOL Ltd |
JEM-ARM200F |
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전계방사 투과전자현미경 |
Field Emission TEM |
JEOL Ltd |
JEM-F200 |
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고분해능 투과전자현미경 |
High Resolution - Transmission Electron Microscope |
JEOL Ltd |
JEM-3010 |
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투과전자현미경 |
Transmission Electron Microscope II |
JEOL Ltd |
JEM-2100 |
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전계방사 주사전자현미경 |
Field Emission Scanning Electron Microscope |
JEOL Ltd |
JSM-7800F Prime / JSM-6700F |
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전계방사 전자현미분석기 |
Field Emission Electron Probe Microanalyzer |
JEOL Ltd |
JXA-8530F |
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이온빔집속장치 |
Focused Ion Beam |
Thermo Fisher |
Helios 650 / Helios G4 |
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나노밀 |
NANO MILL |
Fischione |
M1040 |
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SEM 이온밀 |
SEM MILL |
Fischione |
M1060 |
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전자현미경전처리장비 |
Sample Preparation System for microscope |
Struers |
LaboPol-30 |
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미니 주사전자현미경 |
BENCHTOP Scanning Electron Microscope
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JEOL Ltd |
JCM-6000 |
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표면 X 선구조분석 |
비행시간형 이차이온질량분석기 |
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer |
ION-TOF |
TOF.SIMS-5 |
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표면분석장치 |
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis |
Thermo Fisher/ Kratos |
SIGMA PROBE/ AXIS SUPRA |
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고분해능 X-선 회절 분석기 |
High Resolution X-ray Diffractomer |
Rigaku |
SmartLab |
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분말 X-선 회절 분석기 |
Powder X-ray Diffractometer |
Rigaku |
SmartLab |
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단결정 X-선 회절분석기 |
Single Crystal X-Ray Diffractometer |
Rigaku |
XtaLAB PRO |
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유기생물분석 |
850MHz 핵자기 공명 분광기 |
Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 850MHz |
Bruker |
AVANCE III HD |
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600MHz 핵자기 공명 분광기 |
Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 600MHz |
Bruker |
AVANCE III-600 |
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500MHz 핵자기 공명 분광기 |
Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 500MHz |
Bruker |
AVANCE III-500 |
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300MHz 핵자기 공명 분광기 |
Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 300MHz |
Bruker |
AVANCE III HD |
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500MHz 고체상 핵자기공명 분광기 |
500MHz Solid NMR System |
Bruker |
AVANCE III HD |
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원소 분석기 |
Elemental Analyzer |
Thermo Fisher |
Flash2000 |
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기체 크로마토그래피 고분해능 질량분석기 |
Gas Chromatography High Resolution Mass Spectrometer |
JEOL / Agilent |
JMS-700 / 6890 Series |
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기체 크로마토그래피 탠덤 질량분석기 |
Gas Chromatography Tandem Mass Spectrometer system |
Thermo Fisher |
TSQ 8000 Evo / TRACE 1310 |
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LC/LTQ-Orbitrap 질량분석기 |
Liquid Chromatography /LTQ-Orbitrap Mass Spectrometer |
Thermo Fisher |
LTQ Orbitrap Velos |
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고분해능 거대질량 분석기 |
Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization Mass Spectrometer |
Applied Biosystems/ AB SCIEX |
MALDI TOF Voyager DE-STR/ MALDI TOF-TOF 5800 System |
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현미경 적외선 분광기 |
Microscope Infrared Spectrometer |
Perkin Elmer |
Spotlight 400 |
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푸리에 변환 적외선 분광기 |
FT-IR Fourier Transform Infrared Spectrometer |
Bruker |
TENSOR27 |
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공초점레이저주사현미경 |
Confocal Laser Scanning Microscope |
Carl Zeiss |
LSM710 |
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초고해상도 현미경시스템 |
Super resolution microscope |
Carl Zeiss |
ELYRA PS.1 |
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초고속 유세포 분리기 |
Automated High-speed Flow Cytometry System |
BD Biosciences |
FACS AriaII |
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GAMMA 조사기 감마선 조사기 |
Gammacell Low dose-rate research irradiator |
MDS Nordion |
GC 3000 Elan |
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액체 크로마토그래피 비행시간차 질량분석기 |
ColdSpray LC-TOF-MS |
JEOL |
JMS-T100LP 4G |
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무기물성분석 |
고분해능 3차원 X선 이미징 시스템 |
High resolution 3D X-ray tomography microscope system |
Carl Zeiss |
Xradia 620 Versa |
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유도결합 플라즈마 방출 분광기 |
ICP-Atomic Emission Spectrometer |
Perkin Elmer |
OPTIMA 8300 |
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유도결합 플라즈마 질량분석기 |
ICP-Mass Spectrometer |
Perkin Elmer |
NexION 350D |
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다중검출유도결합플라즈마 질량분석기 |
Multi Collector ICP-Mass Spectrometer |
Nu Instruments |
Plasma 3 |
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파장분산형 X선 형광 분석기 |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer |
Shimadzu/ Bruker |
XRF-1700/ S8 TIGER |
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물리적 특성 분석장치 |
Physical Property Measurement System |
Quantum Design |
PPMS-14 |
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라만분광기 |
Raman Spectrometer |
HORIBA/ Thermo |
T64000/ DXR2xi |
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계면 특성 분석 시스템 |
Surface And Interfacial Characterizing Analysis System |
Daipla Wintes |
SAICAS EN-EX |
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역량 있는 분들의 많은 관심과 지원을 부탁드립니다.
감사합니다.
❏ 공통 응시자격
- 공무원 인사규정에 결격사유가 없는 자
❏ 전형방법
- 1차 서류 전형
- 2차 면접 전형
❏ 제출서류
- (필수)입사지원서 및 자기소개서 1부(해당분야 실무경력 및 특기사항 등을 상세히 기술)
※ 임의 양식
- (서류 전형합격 시) 최종학교졸업(예정)증명서, 경력증명서 등 각종 증빙서류(해당자에 한함)
※ 제출서류는 스캔본이나 파일로 변환하여 메일로 담당자에게 제출 예정
※ 증빙서류는 입사지원서 접수 마감일을 기준으로 최근 3개월 이내 발급한 것만 유효함
❏ 서류접수 마감 및 접수처
- 서류접수 기간: 상시 채용
- 접수방법: 담당자 이메일 (lhy2010<a href="mailto:lhy2010@snu.ac.kr">@snu.ac.kr</a>)
❏ 기 타
- 적격자가 없는 경우 채용하지 않을 수 있습니다.
- 최종 합격자의 출근일정은 합격 통보일을 기준으로 1~4주 이내에서 부서일정에 따라 조율될 예정입니다.
- 제출된 서류는 반환되지 않습니다.
- 부정합격자는 그 사실이 확인된 즉시 합격 및 임용이 취소됩니다.
* 최근 5년 내 다른 공공기관에서 부정한 방법으로 채용된 사실이 적발되어 채용이 취소된 사 람은 채용이 취소된 날로부터 5년간 응시 불가합니다.
- 경력 및 학력사항을 허위 또는 고의로 누락하여 기재한 사실이 밝혀질 경우, 채용이 취소될 수 있습니다.
- 문의처: 서울대학교 기초과학공동기기원 행정실 [Tel.(02)880-5430,6499]
2021년 1월 19일
서울대학교 기초과학공동기기원장
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