사용료
 
실험 종류 사용료
XPS Normal 80,000/시료, 40,000/초과 30
Small area 분석(분석 영역 - 110, 55µm) 100,000/시간
Small area 분석(분석 영역 27µm, 15µm) 200,000/시간
Depth Profile 240,000/시료, 60,000/초과 1시간
Depth Profile (Ar Cluster 사용) 340,000/시료, 60,000/초과 1시간
Angle resolved XPS 240,000/시료, 60,000/초과 1시간
Imaging XPS 200,000/시간
Interface XPS 120,000/시간
UPS Normal 100,000/시료
Depth Profile 200,000/시료, 50,000/초과 1시간
AES Normal 100,000/시료, 50,000/초과 30
Depth Profile 250,000/시료, 50,000/초과 1시간
Depth Profile (Ar Cluster 사용) 350,000/시료, 50,000/초과 1시간
기타 data curve fitting 5,000/원소
표면 cleaning 20,000/
원소추가-Normal 10,000/원소
원소추가-Depth Profile, ARXPS 60,000/원소
분석 원소 수의 제한 Depth Profile 실험은 원소 3개까지, 나머지 실험방법은 원소 5개까지 제한이 있습니다.
대학은 기준수가 적용, 외부 연구소 및 산업체는 기준수가의 200%를 적용합니다.