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TEM(200kV) (구 TEM II) 투과전자현미경
TEM(200kV) (구 TEM II)
Transmission Electron Microscope II (ccd camera type)
투과전자현미경
호   실  :
139-1동 251호
모   델  :
JEM-2100(JEOL Ltd, Japan)
담당자  :
이인성
이메일  :
einsung@snu.ac.kr
연락처  :
880-8055

*시간제 분석지원 서비스 장비의 분석시간 재안내

□ 시행 : 2017년 3월 1일(분석서비스일자 기준)
기초과학공동기기원에서는 시간제로 분석지원 서비스하는 장비의 예약제에 따른 순차 지연 방지 등 원활한 운영 및 효율성 강화를 위하여 아래와 같이 분석지원 시간을 변경하오니 이용에 참고하시기 바랍니다.

□ 변경사항

구 분

변경 전

변경 후

분석시간

60분

50분

자료 저장 및 정리/휴게

-

10분

 

*장비 예약 신청시 꼭 확인 바랍니다.

□ 장비 예약시 Cs-TEM, Cs-STEM, TEM-II 예약 현황 확인 후 비어있는 시간으로 예약바랍니다.

   ( 담당자는 현재 Cs-TEM, Cs-STEM, TEM-II 분석 지원을 하고 있습니다.)

 - 직접사용자는 TEM-II 예약 현황만 확인 후 예약하시면 됩니다.

  ( 시료의 궁금하신 점은 전화나 메일로 문의후 예약바랍니다. )